UltraShort Laser Pulse -ajan näytteenottotekniikka
UltraShort -pulssien syntymisen jälkeen ne ovat olleet tärkeä tutkimustyökalu monilla tieteellisillä tutkimusaloilla, kuten ultrapastaspektroskopialla, attesekunnin tieteellä, THZ -generaatiolla jne. ., ja ultraShort -laserpulssipulssien tarkka hankinta on edellyttämä ultrashort -pulssien {{1} generointi ja soveltaminen .}
Perinteiset mittausmenetelmät, kuten fotodiodit ja autokorrelaatiomittaukset, voivat mitata vain pulssin kirjekuoren, mutta ei voi saada pulssin . vaihetietoa tämän ongelman ratkaisemiseksi, monenlaisia ultrashort-pulssimittaustekniikoita on kehittynyt, kuten taajuuden keräämät optiset haarat (frog) ja dispersioiden skannaamisen (discan) {3 Epäsuorat menetelmät, jotka luottavat rekonstruktioalgoritmeihin . Verrattuna epäsuoriin mittausmenetelmiin, suorat mittausmenetelmät käyttävät ultrapehtisiä aikaportteja suoraan näytteisiin ultraShort -pulsseihin aika -alueella ., siksi suorat mittausmenetelmät, ydin sijaitsee, kuinka muodostuu monimuotoisia aikoja, .}}}}}}}}}. -sovelluksessa Portit, kuten suoraan käyttämällä attesekunnin pulsseja, käyttämällä tunnelointi -ionisaatiota, epälineaarista valonjohtavuusnäytteenottotekniikkaa jne. . Nämä menetelmät vaativat tyhjiöjärjestelmiä tai vaativat valonhuollon tarkan mittauksen .}}}}}}}}}}}}
Pulssin aika-alueen näytteenottotekniikka perustuu kiinteän pinnan neljän aallon sekoitusprosessin häiriöihin
Äskettäin Xi'anin optiikan ja tarkkuusmekaniikan instituutin AttoSecond Science and Technology Research Center ehdotti uutta aika-alueen näytteenottotekniikkaa ultrashort-laserpulssille . Tämä mittaustekniikka perustuu kolmannen asteen epälineaariseen optiseen vaikutukseen ja saa aikaan ultrapast-ajanjakson ja näytteenotot Ultrashort-pulssit Solid-Aika-ablettina. Prosessi . UltraShort Pulse -ajo-alueen näytteenottolaite on esitetty kuvassa 1., ultrashort-pulssi on jaettu kahteen laserpulssiin, nimittäin perustaajuuden valon pulssiin ja häiriövalon pulssiin, ja d-muotoisen peilin ja a-aallonsuhteen ja a-aallonsuhteen välisen viiveen τ Siirtymävaihetta . Sitten koveraa heijastinta käytetään keskittymään kahteen kahteen fuusioituneen kvartsiosan viipaleen . etupintaan. Lopuksi MASK2: ta käytetään heijastuneen perustaajuuden kevyen pulssin ja häiriövalon pulssin estämiseen, ja linssiä käytetään keskittymään heijastettuun neljän aallon sekoittumiseen. spektrometri .
Ensinnäkin kokeellista laitetta käytettiin uroshrashort-pulssien mittaamiseen, jonka keskitason aallonpituus oli 800 nm ja Pulssileveys noin 30 FS: llä, jonka on tuottanut TI: Sapphire-laserjärjestelmä . Kuva 2 (a) näyttää heijastetun neljän aallon sekoitusmodulaatiosignaalin aaltomuodon, joka on mitattu .}}}}}}}}} -sekvyseknologiansa aaltomuodon.}}}}}} -sekvenssispektrasen aaltomuodossa. 2 (b) . Voidaan nähdä, että vaihe on tasainen tällä hetkellä, melkein vaakasuora viiva ., sitten muuttamalla häiriöiden valopulssin dispersiota, mitattiin erilaisissa sirput . mittaustulokset esitetään kuvissa 2 (c)-(f) {.}}}}}} 2 (d) vastaa positiivisia sirpalilaserpulsseja ja kuviot 2 (e) ja 2 (f) vastaavat negatiivisia sirpaleita .
UltraShort Pulse -ajan verkkotunnuksen näytteenottotekniikan luotettavuuden varmistamiseksi Frogia käytettiin verrataan ultrashort -pulssien ., se voidaan nähdä kuvioista 2 (b), 2 (d) ja 2 (f), että sammakon ja aikataulu -näytteenottotekniikan tulokset ovat.}}}}}}}}}}}}}} 1700 nm ja pulssin leveys noin 50 FS mitattiin onnistuneesti käyttämällä tätä kokeellista asennusta ja sammakkoa .
Koska näytteenottoprosessi tapahtuu kiinteällä pinnalla, vaiheen sovitusolosuhteet voidaan täyttää automaattisesti, joten tämä mittaustekniikka soveltuu muutaman syklin tai jopa yhden syklin pulssien mittaamiseen {., sen jälkeen rakennettiin monisykynyt jälkikompressiojärjestelmä, joka perustuu TI: SAPHIRE-Laser-järjestelmän Ti: Changn-Laser -suojajärjestelmän kanssa ja käännettynä yhtenäisenä. 3 . 4-sykliä (noin 9 FS) saatiin . Laserpulssin leviämisen optimoinnin jälkeen spektrin laajentumisen ja suodatuksen jälkeen heijastetun neljän aallon sekoitusmodulaatiosignaalin aaltomuoto on esitetty kuvassa 3 (a) ja sen pulssin leveys on noin 12 FS .}} vastaava spektruminsa.
The above measurement results show that the ultrashort pulse time domain sampling technology is suitable for characterizing short-cycle and few-cycle laser pulses. At present, the applicable wavelength based on the existing silicon-based and InGaAs detectors is 200-2600 nm. For laser pulses with a wavelength exceeding 2600 nm, traditional detectors Neljän aallon sekoitussignaaleja ei voida suoraan havaita . tämän mittaustekniikan soveltamisen laajentamiseksi edelleen, kolminkertaista taajuusvaikutusta käytetään tulevaisuudessa epäsuorasti mittaamaan laserpulsseja, joiden aallonpituusalue on 2600-7800 nm .
Tutkijoiden Zhao Wei ja Fu Yuxi . johdolla perustettiin Xi'anin optiikan ja tarkkuusmekaniikan instituutin AttoSecond Science and Technology Research Center. Laser, attekunnin elektronimikroskooppi, ultraopea kuvantaminen, ultrapehän dynamiikka, vahva kenttälaserfysiikka jne. . Tutkimuskeskus ei vain toteuta Attecond Light -lähteiden suuria tieteellisiä tiloja, vaan johtaa myös useita kansallisia ja Provincial Science -tutkimusprojekteja koskevia suuria kansallisia ja provinssitutkimusprojekteja, mukaan lukien lukumäärä ja minis-yhtiöiden lukumäärä ja minis-yhtiöiden lukumäärä, avainsarja ja minis-yhtiöiden lukumäärä ja minis-yhtiöiden lukumäärä, joka sisältää myös kansallisen luonnontieteellisensä. Kiinan tiedeakatemian, Shaanxin luonnontieteen perustutkimussuunnitelman, Shaanxi AttoSecond Science and Technology Innovation -tiimin ja muiden tieteellisten tutkimusprojektien tärkein tieteellinen ja teknologinen infrastruktuuri . Viime vuosina ATSECOND Science and Technology Research Center on ylittänyt 1 KHZ: n avainprosessit ja teknologiat. Laserlähtö, ja tarjosi keskeisiä ydinteknologioita ja -laitteita huippuluokan laserien lokalisoimiseksi ja edistyneiden atotosekunnin laserlaitosten rakentamiseksi; ehdotti ja osoitti laserkentän suoran mittausmenetelmän aika -alueella; ja murtautui Attecond-aikarajoitettujen diffraktiokuvauksen . tärkeimpiin vaikeuksiin ..
